New Development of Depth Profiling in XPS

نویسندگان
چکیده

برای دانلود باید عضویت طلایی داشته باشید

برای دانلود متن کامل این مقاله و بیش از 32 میلیون مقاله دیگر ابتدا ثبت نام کنید

اگر عضو سایت هستید لطفا وارد حساب کاربری خود شوید

منابع مشابه

development of feminist poetics in adrienne rich

اشعار ریچ، به عنوان اشعاری که همیشه در حال تغییر و دگرگونی هستند، تجسمی از رشد و دگرگونیِ انسان هستد. پایان نامه ی حاضر، با تمرکز بر روی مراحل سیر شعری ریچ از تغییری در دنیا به عکس هایی فوری از یک عروس، سپس به شیرجه به درون کشتی شکسته و در نهایت به صبری عجیب مرا تا اینجا آورده، به بررسی این مراحل در قالب نظر شوالتر در رابطه با سه مرحله ی پیشرفت ادبی زنان یعنی مرحله ی زنانه، زن گرا و زن محور می پ...

15 صفحه اول

Depth-profiling X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) analysis of interlayer diffusion in polyelectrolyte multilayers.

Functional organic thin films often demand precise control over the nanometer-level structure. Interlayer diffusion of materials may destroy this precise structure; therefore, a better understanding of when interlayer diffusion occurs and how to control it is needed. X-ray photoelectron spectroscopy paired with C60(+) cluster ion sputtering enables high-resolution analysis of the atomic composi...

متن کامل

X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) Depth Profiling for Evaluation of La2Zr2O7 Buffer Layer Capacity

Lanthanum zirconate (LZO) films from water-based precursors were deposited on Ni-5%W tape by chemical solution deposition. The buffer capacity of these layers includes the prevention of Ni oxidation of the substrate and Ni penetration towards the YBCO film which is detrimental for the superconducting properties. X-ray Photoelectron Spectroscopy depth profiling was used to study the barrier effi...

متن کامل

XPS depth profiling and leakage properties of anodized titania dielectrics and their application in high-density capacitors

The chemical structure and electrical properties of anodized titania are investigated for their application as conformal ultra-thin dielectrics on high surface area titanium electrodes. The chemical structure is studied by XPS depth profiling for the first time along with the role of anodization conditions on dielectric thickness, leakage current, and capacitance densities. Different leakage cu...

متن کامل

Development of a Depth Profiling Technique Using Diffuse Reflectance

Recent developments in FT—IR sampling techniques such as diffuse reflectance and photoacoustic spectroscopy are known to obtain new and novel information on solid polymers. In particular, depth profiling can be obtained from the surface using a potassium bromide overlayer. Photoacoustic spectroscopy using coupling gases with different polarizability allows one to determine the nature of absorbe...

متن کامل

ذخیره در منابع من


  با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید

ژورنال

عنوان ژورنال: Journal of Surface Analysis

سال: 2018

ISSN: 1341-1756,1347-8400

DOI: 10.1384/jsa.25.25